Light-industry-up.ru

Экосистема промышленности

Файл:AFMsetup.jpg

11-10-2023

AFMsetup.jpg ‎(721 × 569 пикселей, размер файла: 86 КБ, MIME-тип: image/jpeg)
Сведения об этом файле находятся на Викискладе?, хранилище изображений и мультимедиа для использования во всех проектах Фонда Викимедиа
О возможной ошибке можно сообщить по-английски на Викисклад или по-русски здесь.

Краткое описание

Описание
English: Typical atomic force microscope (AFM) setup: The deflection of a microfabricated cantilever with a sharp tip is measured by reflecting a laser beam off the backside of the cantilever while it is scanning over the surface of the sample.
Deutsch: Typischer Aufbau eines Rasterkraftmikroskops (RKM): Die Auslenkung eines Abtastarms (Englisch: Cantilever) mit einer feinen Tastspitze wird während des Abtastens der Oberfläche anhand der Auslenkung eines Laserstrahls bestimmt, der von der Oberseite des Abtastarms reflektiert wird.
Дата
Источник http://kristian.molhave.dk
  • This illustration was made for the Opensource Handbook of Nanoscience and Nanotechnology
  • The image also appears on the Commons/nanotechnology page
Автор Kristian Mølhave
Права
(Повторное использование этого файла)

CC-BY-2.5, please acknowledge the Opensource Handbook of Nanoscience and Nanotechnology if you use this illustration!
Имеется векторный вариант этого изображения ("SVG").
Его следует использовать, если оно имеет более высокое качество, чем эта растровая версия.
File:AFMsetup.jpg File:AFM schematic (EN).svg

Чтобы узнать больше о векторной графике, прочтите статью Перевод изображений в формат SVG.
Также доступна информация о поддержке формата SVG в MediaWiki.

Alemannisch | Беларуская (тарашкевіца)‎ | Català | Česky | Dansk | Deutsch | Ελληνικά | English | Español | Eesti | Euskara | فارسی | Suomi | Français | Galego | עברית | Hrvatski | Magyar | Հայերեն | Italiano | 日本語 | ქართული | 한국어 | Lietuvių | Македонски | മലയാളം | Plattdüütsch | Nederlands | Norsk nynorsk | Norsk bokmål | Occitan | Polski | Português | Português do Brasil | Română | Русский | Slovenčina | Slovenščina | Српски / srpski | Svenska | ไทย | Türkçe | Українська | Vèneto | Tiếng Việt | 中文 | 中文（简体）‎ | 中文（繁體）‎ | 中文（台灣）‎ | +/−

Лицензирование:


 Этот файл доступен по лицензии Attribution 2.5 Generic
Вы можете свободно:
  • делиться произведением – копировать, распространять и передавать данное произведение.
  • создавать производные – переделывать данное произведение
При соблюдении следующих условий:
  • указание авторства – Вы должны указывать авторство (источник) данного произведения в виде, установленном автором или лицензиаром (но ни в коем случае не таким образом, который наводит на мысль, что автор поддерживает вас или ваше использование данного произведения).

История файла

Нажмите на дату/время, чтобы посмотреть файл, который был загружен в тот момент.

Дата/времяМиниатюраРазмерыУчастникПримечание
текущий14:10, 21 ноября 2006721 × 569 (86 КБ)KristianMolhave*Figure Caption: Typical AFM setup. The deflection of a microfabricated cantilever with a sharp tip is measured be reflecting a laser beam off the backside of the cantilever while it is scanning over the surface of the sample. *This illustration was made

Глобальное использование файла

Данный файл используется в следующих вики:

  • Использование AFMsetup.jpg в ca.wikipedia.org
    • Nanotecnologia
  • Использование AFMsetup.jpg в en-labs.wikimedia.org
    • Nanotechnology/AFM
  • Использование AFMsetup.jpg в en.wikipedia.org
    • Nanotechnology
    • Scanning tunneling microscope
    • Atomic force microscopy
    • Scanning probe microscopy
    • Scanning voltage microscopy
    • Millipede memory
    • Electrochemical scanning tunneling microscope
    • Magnetic force microscope
    • Kelvin probe force microscope
    • Near-field scanning optical microscope
    • Scanning gate microscopy
    • Magnetic resonance force microscopy
    • Electrostatic force microscope
    • Scanning ion-conductance microscopy
    • Scanning probe lithography
    • Spin polarized scanning tunneling microscopy
    • Feature-oriented scanning
    • Feature-oriented positioning
    • Counter-scanning
    • Counter-scanned images
    • User:Antony-22/Navboxes
    • Template:Scanning probe microscopy
    • Scanning capacitance microscopy
    • Scanning Hall probe microscope
    • Photothermal microspectroscopy
    • Ballistic electron emission microscopy
    • User:Bci2
    • User:Bci2/Books/Wk1Book
    • User:Bci2/Books/Wk2Book
    • User:Bci2/Books/Wk3vol1
    • User:Bci2/Books/Wk4
    • Local oxidation nanolithography
    • User:GERphysicist/Synchrotron x-ray scanning tunneling microscopy
    • Portal:Nanotechnology/Selected article
    • Portal:Nanotechnology/Selected article/1
    • IBM (atoms)
  • Использование AFMsetup.jpg в en.wikibooks.org
    • Nanotechnology/AFM
    • Nanotechnology/Print version
  • Использование AFMsetup.jpg в es.wikipedia.org
    • Microscopio de fuerza atómica
  • Использование AFMsetup.jpg в ga.wikipedia.org
    • Nanaitheicneolaíocht
  • Использование AFMsetup.jpg в gu.wikipedia.org
    • નાનોટેક્નોલોજી
  • Использование AFMsetup.jpg в he.wikipedia.org
    • ננוטכנולוגיה
  • Использование AFMsetup.jpg в hr.wikipedia.org
    • Razgovor:Nanotehnologija
  • Использование AFMsetup.jpg в hy.wikipedia.org
    • Ատոմական ուժային մանրադիտակ
    • Կաղապար:Տեսածրող մխանային մանրադիտում
  • Использование AFMsetup.jpg в it.wikipedia.org
    • Template:Microscopia a scansione di sonda
    • Microscopia a scansione di sonda
    • Microscopio a effetto tunnel

Просмотреть глобальное использование этого файла.

Файл:AFMsetup.jpg.

© 2014–2023 light-industry-up.ru, Россия, Краснодар, ул. Листопадная 53, +7 (861) 501-67-06